SN74LVTH182512DGGR
Número de pieza SN74LVTH182512DGGR
Fabricante N/A
Descripción IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
cantidad disponible 3015 pcs new original in stock.
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Modelo ECAD
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Información técnica de SN74LVTH182512DGGR
Número de pieza del fabricante SN74LVTH182512DGGR Categoría Circuitos integrados (CI)
Fabricante N/A Descripción IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Paquete / caja Tape & Reel (TR) cantidad disponible 3015 pcs
Tensión de alimentación 2.7 V ~ 3.6 V Paquete del dispositivo 64-TSSOP
Serie 74LVTH embalaje Tape & Reel (TR)
Paquete / Cubierta 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Otros nombres 296-8698-2
74LVTH182512DGGRE4
74LVTH182512DGGRE4-ND
74LVTH182512DGGRG4
74LVTH182512DGGRG4-ND
Temperatura de funcionamiento -40°C ~ 85°C Número de bits 18
Tipo de montaje Surface Mount Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) 1 (Unlimited)
Tiempo de entrega estándar del fabricante 6 Weeks Tipo de lógica ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Estado sin plomo / Estado RoHS Lead free / RoHS Compliant Descripción detallada ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
Número de pieza base 74LVTH182512  
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