SN74LVTH18502APM
Número de pieza SN74LVTH18502APM
Fabricante N/A
Descripción IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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Información técnica de SN74LVTH18502APM
Número de pieza del fabricante SN74LVTH18502APM Categoría Circuitos integrados (CI)
Fabricante N/A Descripción IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Paquete / caja Tray cantidad disponible 2959 pcs
Tensión de alimentación 2.7 V ~ 3.6 V Paquete del dispositivo 64-LQFP (10x10)
Serie 74LVTH embalaje Tray
Paquete / Cubierta 64-LQFP Otros nombres 296-8699
Temperatura de funcionamiento -40°C ~ 85°C Número de bits 18
Tipo de montaje Surface Mount Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) 3 (168 Hours)
Tiempo de entrega estándar del fabricante 6 Weeks Tipo de lógica ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Estado sin plomo / Estado RoHS Lead free / RoHS Compliant Descripción detallada ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
Número de pieza base 74LVTH18502  
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