SN74LVTH18646APMG4
Número de pieza SN74LVTH18646APMG4
Fabricante N/A
Descripción IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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Información técnica de SN74LVTH18646APMG4
Número de pieza del fabricante SN74LVTH18646APMG4 Categoría Circuitos integrados (CI)
Fabricante N/A Descripción IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Paquete / caja Tray cantidad disponible 2508 pcs
Tensión de alimentación 2.7 V ~ 3.6 V Paquete del dispositivo 64-LQFP (10x10)
Serie 74LVTH embalaje Tray
Paquete / Cubierta 64-LQFP Temperatura de funcionamiento -40°C ~ 85°C
Número de bits 18 Tipo de montaje Surface Mount
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) 2 (1 Year) Tiempo de entrega estándar del fabricante 6 Weeks
Tipo de lógica ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers Estado sin plomo / Estado RoHS Lead free / RoHS Compliant
Descripción detallada ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10) Número de pieza base 74LVTH18646
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